離子污染測試儀 IC300
IC300專門用于PCB/PCBA/半導體元器件表面離子污染含量的測試。
本測試儀采用循環萃取模式,把待測產品表面的離子型污染物萃取到測試溶劑中,再通過高精度的測量探頭和精密的分析系統,準確測量和計算出出待測產品的單位面積的平均離子含量,自動判斷離子含量是否達到要求,作為出貨的檢驗手段或為清洗工藝的改善提供數據參考。
測試產品尺寸≤L300*W350*T45(mm)
設備特點:
1. 使用高精度PRO級電阻率測量系統,無溶劑極化現象,保證測試的準確性。
2. 自動校準功能,無需進行復雜的計算,一步到位。
3. 靜態和動態兩種測試方式。
4. 特制樹脂再生裝置,再生速度快,使用壽命長。
5. 測試產品尺寸L300*W350*T45(mm),滿足大,小尺寸產品測試需求。
6. 全密閉測試環境,減少空氣中CO2對測試結果的影響。
7. 測試溶劑加熱到40℃。
8. 浸入式循環噴淋,確保離子污染物的完全萃取。
9. 獨特的管道設計和全新的元器件選型,測試效率最快。
10. 高清攝像頭對溶劑液位實時監控,通過保證液位穩定,使測試獲得更高的精度。
11. 操作軟件簡單,直觀,測試過程全自動。
12. 兼容MIL-P-28809,MIL-STD-2000A,DEF-STD-10/03等國際標準。

